Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных...

Main
Оборудование и методы контроля...

Оборудование и методы контроля микрорельефа дифракционных оптических элементов

Волков А.В., Саноян А.Г., Бородин С.А., Агафонов А.Н.

0 / 0

Koliko vam se sviđa ova knjiga?

Kakav je kvalitet fajla?

Preuzmite knjigu radi procene kvaliteta

Kakav je kvalitet preuzetih fajlova?

Jezik:

russian

ISBN 10:

5788306272

ISBN 13:

9785788306278

Fajl:

ZIP, 1.40 MB

IPFS:

,

russian0

Preuzeti (zip, 1.40 MB)

Konvertovanje u je u toku

Konvertovanje u nije uspešno

Možda će vas zanimati

Бурцев — Применение ЭВМ при моделировании процессов термического напыления в вакууме

Кашицын Александр Станиславович, Таланов Олег Львович, Марсова Светлана Евгеньевна — Оптика и квантовая физика

Пронин Александр Александрович — Физические основы нанотехнологий

Ситанов Д.В. — Методы исследования материалов и структур

Зубов И. И., Гришин С. Ю., Гольцов Л. И. — Практикум по физике. Ч. 3. Оптика. Квантовая и атомная физика

Козик Е. С. — Устройство и работа электронного микроскопа JEOL JCM-6000 NEOSCOPE

Глущенко А. Г., Глущенко Е. П., Гончарова Г. Н., Жуков С. В., Поволж. гос. ун-т телекоммуникаций и информатики — Оптическое материаловедение. Материалы и технологии оптических элементов

А. Р. Хайруллин — Микроструктурный анализ энергонасыщенных материалов методами оптической и электронной микроскопии

зубова — Практикум по физике : Практикум по физике

А.Ю. Кривцов, И.Г. Бянкин — Определение теплопроводности материалов при стационарном режиме : метод. указания к лаб. работе по дисциплине «Металлургическая теплотехника»

С.М. Бельский, Е.Б. Бобков, Ю.А. Мухин, В.Н. Соловьёв — Системы контроля геометрических параметров горячекатаных полос : учеб. пособие

Нарайкин, О.С. — Введение в микросистемную технику

Ю.А. Юраков — Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии

М. А. Беджанян — Оптика. Атомная физика : лабораторный практикум

В.Д. Шашурин — Формирование гетероструктур наноприборов методом молекулярно-лучевой эпитаксии

Дашков М. В. — Входной контроль волоконно-оптического кабеля

Томина Елена Викторовна, Миттова Ирина Яковлевна, Сладкопевцев Борис Владимирович, Книрова Мария Викторовна — Практикум синтез и исследование нанодисперсных систем

Солдатов А. А. — Методическая разработка к лабораторной работе «Измерение характеристик диэлектрических материалов»

Жданова Наталья Владимировна — Микроэлектроника

Глушенко А. Г. — Конспект лекций по учебной дисциплине «Материалы и технологии интегральной оптики (инфокоммуникационных систем)»

Глушенко А. Г. — Фотоника

Филяк М. М. — Конструктивно-технологические основы микроэлектроники

Шорин — Оптика лазеров

Львова — Учетная политика организации: Рабочая тетрадь

Владимирова Л. Н., Бормонтов Е. Н., Петраков В. И. — Определение удельного сопротивления полупроводников четырехзондовым методом

Балабаева Р. Ф. — Интернет-экзамен по химии (80,00 руб.)

Рудь Н. А. — Геометрическая оптика (80,00 руб.)

Саенко А. Г., Алтайская А. В. — Физика. Ч. 3. Раздел «Оптика»

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Путилин Сергей Анатольевич — Диагностика оборудования холодильных установок

Сандирова М. Н. — Рабочая тетрадь по спортивной метрологии

Глущенко А. Г. — Наноматериалы и нанотехнологии (240,00 руб.)

Андреев В. А. — Основы технической эксплуатации ВОЛП (160,00 руб.)

сост. А. П. Гардымова. — Испытание и диагностика материалов и структур микро- и наноэлектроники. Введение в электронную микроскопию

Коллектив авторов — Рентгенография и электронная микроскопия

Najčešći pojmovi

поверхности

aгентство

электронов

подложки

микрорельефа

контроля

оптических

элементов

измерения

жидкости

поверхность

подложек

контроль

позволяет

электроны

изображения

микроскопа

электронного

дифракционных

травления

используется

материалов

величина

определяется

вторичных

получения

качестве

наиболее

определить